钢研纳克电感耦合等离子体质谱仪PlasmaMS 300 仪器特点
1. 石英、耐氢1氟酸等丰富多样的进样系统；分立式矩管，便于拆卸维护；可选配半导体制冷进样装置和自动进样系统。
2. 27.12MHz全固态RF发生器，实现极高的稳定性；自动匹配速度快，保证了点火成功率
3. 双锥接口，可在真空状态下直接拆卸维护
4. 大范围准确可调的三维平台，实现矩管全自动定位和校准
5. 双离轴离子传输（偏转）系统，去除不带电粒子，保证低噪声和高灵敏度
6. He气碰撞池匹配性能高质量流量控制器，有效去除多离子干扰
7. 高通量的长四极杆，质量范围2-265amu，分辨率<0.8amu；应用的DDS技术，实现自动频率匹配，保证离子有效筛选
8. 双模式检测器，脉冲计数和模拟计数检测，高达9个数量级线性范围
9.两只独立分子泵组合而成的性能高双涡轮分子泵真空系统和全自动监控系统，确保稳定性和灵敏度
10. 无处不在的屏蔽处理，保护实验人员安全和仪器稳定
11. 通过多项可靠性实验的考验，保证仪器运行和稳定
12. 人性化的工作软件
PlasmaMS 300 钢研纳克
中文软件界面，符合中国人操作习惯，用户灵活保存检测方法
全方面的状态监控输出，错误主动提示，问题一目了然，极大方便日常维护
带有LIMS接口，满足第三方实验室的需求
ICP-MS简述
20世纪60年代末期，采用电感耦合等离子体源的原子光谱技术成为当时应用于微量元素分析的一项非常有前
途的技术（Greenfield等，1964； Wendt与Fassel, 1965）。但在分析超低含量物质时由于背景光谱增强，光谱干扰
严重使分析灵敏度和准确度达不到要求。只有质谱法能同时满足谱图简单、分辨率适中和较低检出限的要求。因此， ICP-AES所具有的样品易于引入、分析速度快、多元素同时分析的特点与质谱仪的联用成为科学和商业上研究的
热点。1970年许多公司深入的参与了该技术的研究，CP作为发射源使等离子体中分析物有效电离能够满足新一代
仪器源的要求。同时也注意到惰性气体在大气压下的电等离子体可能是一个很好的离子源。因此人们采用四极杆 质量分析器和通道式离子检测器开展可行性研究。Gral在70年代中期首先报道了用等离子体作为离子源的质谱分 析法。1981年Gray在Surrey实验室设计完成了 ICP源上所预期性能的设备，获得了张ICP谱图。1983年英 国VG公司与加拿大Sciex公司推出商业化的ICP-MS，1984年在用户实验室才安装ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化学分析中广泛应用开来。
ICP-MS理想的样品制备应该达到以下几条标准
• 将固体和液体样品转换为澄清溶液
• 完全消解了所有的有机物质
• 保留所有目标检测元素，并且元素浓度在仪器的检测范围内
• 未引入新的干扰离子
• 将样品的粘度和固体物含量调节到适合分析的范围
• 确保所有的样品容器都进行过酸液浸泡的前处理，以保证的检出限
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ICP-MS分析流程的建立
对于一种新基体的样品来说，常规的分析路径如下：
1.酸化或溶解样品
样品一般需要先进行酸化溶解使目标元素溶解在液体中.
2.选择目标分析物和目标同位素
根据浓度范围来选择分析物和同位素。
3.先进行扫描以便识别出存在的干扰
可以先进行半定量扫描，可以通过半定量扫描判断大致存在哪些元素以及各个元素 的大致浓度范围。
4. 选择数据的采集模式以及校正曲线的类型
一般如果使用连续流的数据采集模式，会使用外标定量法。也有其他的数据评估方
法可以使用。
5.选择合适的内标元素
内标元素的使用可以校正由于时间或基体抑制效应引起的信号漂移。
6.能进行基体匹配
将标样的基体匹配到和您的样品基体完全一致，可以将两者之间的差异减小到小， 并且有助于得到更为准确的结果数据。
7.进行质量控制校正（QC check）
在分析过程中插入另一来源的标样(2ndSource Standard)或者有证标准物质 (Certified Reference Material)，确保数据的完整性。