相控阵超声检测优点
（1）相控阵的S扫：即同时拥有许多角度的超声波，相当于多种角度的探头同时工作，所以相控阵无需锯齿扫查，只要沿着焊缝移动探头即可，检测效率更高，适合自动化检测。
（2）相控阵的动态深度聚焦：而常规超声波一般没有（除了聚焦探头外），所以相控阵检测的灵敏度和分辨率都比常规超声检测高。
（3）相控阵检测可以同时进行B扫、D扫、S扫和C扫描，通过建模，缺陷显示非常直观。
（4）超声相控阵可以检测复杂形状的零件，比如可以检测叶片的叶根、螺栓、变径轴。
相控阵超声检测产品优势
1、相控阵采用S扫，即同时可以拥有许多角度的超声波，就相当于拥有多种角度的探头同时工作，所以相控阵无需锯齿扫查，只要沿着焊缝挪动探头即可，检测效率更高。适用于自动化生产，和批量生产。
2、相控阵可以拥有聚焦功能，而常规超声波一般没有（除了聚焦探头外），所以相控阵检测的灵敏度和分辨率都比常规超声检测高。
相控阵超声检测
动态深度扫描又称动态深度聚焦，超声声束沿阵元中轴线，对不同深度的焦点进行扫描。分为发射动态深度聚焦和接收动态深度聚焦：发射动态聚焦即在发射时以不同聚焦深度延迟对探头进行分别激发，声束焦点在空间中深度方向延伸；接收动态聚焦在发射时使用单个聚焦脉冲，通过接收时不同深度接收延迟对回波脉冲重新聚焦。右图为动态深度扫描示意图，以及普通扇形扫描成像和动态深度聚焦成像对比。
相控阵探头参数影响
相控阵超声阵列探头的性能对检测分辨率的影响很大，如何设计探头参数是极为关键的技术之一。要想获得化的设计效果需要研究相控阵阵列探头对声束指向性、聚焦效果等特性的影响。
影响声束特性的探头参数主要包括：探头阵元数（N）、阵元间距（d）和阵元宽度（a）。这里列举一个通过实验来分析相控阵探头参数对聚焦声场的影响，并计算确定合适的阵列参数，以获得较好的声束特性，从而使超声检测的分辨力提高。