☆ 对于毫米尺度的截面，较快的材料去除速度比典型的Ga + FIB要快15,000倍
☆ 统计相关的亚表面和3D数据分析，在更短的时间内获得更大的体积
☆ 可重复的切割放置与三束重合在样品上
☆ 通过提取亚表面TEM薄片或块快速表征深部特征，用于三维分析
☆ 高通量处理具有挑战性的材料，如不导电或离子束敏感样品
☆ 快速和简单的表征空气敏感样品，对于成像和截面制备不需要在不同仪器之间转移
☆ 包含Helios 5 PFIB平台的所有功能，包括高质量的Ga-free TEM和APT样品制备以及极高的高分辨率成像能力
Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser 聚焦离子束电镜参数：
激光集成：3束(SEM/PFIB/laser)完全集成在仓室中，并具有相同的重合点，
实现可重复的切割位置和3D表征。
一次谐波：波长1030纳米（红外），，脉冲持续时间<280fs
二次谐波：波长515纳米（绿），脉冲持续时间<300fs
更多信息：聚焦离子束电镜
http://www.opton17.com/Products-34324232.html
https://www.chem17.com/st439186/product_34324232.html